扫描电镜和透射电镜的区别
扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种不同类型的电子显微镜，它们在原理、结构、成像方式、应用范围等方面存在显著差异：
扫描电镜（SEM）
加速电压 ：通常使用15kV以上的加速电压。
成像方式 ：电子束不穿过样品，聚焦在样本的一小块地方，一行一行地扫描样本，获得立体图像，反映标本的表面结构。
样品制备 ：无需制成薄片。
放大倍数 ：一般较低，但可以提供较大的景深。
电子类型 ：使用散射电子。
应用范围 ：适用于观察材料表面形貌、纹理、断面以及微小结构等。
特点 ：能够直接观察大尺寸样品表面，样品制备简单，图像具有立体感，分辨率和放大范围广。
透射电镜（TEM）
加速电压 ：设置在60-300kV的范围内。
成像方式 ：电子束穿过样品，通过样品的衍射和吸收来获得内部结构信息，提供的是样品的2D投影图像。
样品制备 ：样本必须非常薄，通常低于150nm，高分辨率成像时甚至需要低于30nm。
放大倍数 ：一般高于SEM，能够提供非常高分辨率的图像。
电子类型 ：使用透射电子。
应用范围 ：适合观察材料的晶体结构、原子排列、界面和缺陷等内部微观结构。
特点 ：能够提供高分辨率的样品内部结构图像，但样品制备要求严格，操作过程复杂。
总结
成像维度 ：SEM提供样品表面的3D图像，而TEM提供样品的2D投影图像。
样品要求 ：SEM样品无需特殊处理，TEM样品需要制成极薄切片。
应用目的 ：SEM更侧重于表面形貌的分析，TEM更侧重于内部结构的观察。
技术挑战 ：TEM由于需要高真空和极薄样品，其技术挑战和操作难度通常高于SEM
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